Testec TT-SI 9001 Differential-Tastkopf aktiv, 25 MHz

Testec TT-SI 9001 Differential-Tastkopf aktiv, 25 MHz

Testec TT-SI 9001 Differential-Tastkopf aktiv, 25 MHz 10:1, 100:1

Zur Messung und Beobachtung von hohen Differenzspannungen mit höchster Sicherheit.
Der Tastkopf aus der SI-Serie erlaubt die Messung zwischen zwei beliebigen Punkten einer Schaltung, ohne Masse als Bezugspunkt. Da der Ausgang aber auf Masse bezogen ist, kann er problemlos mit dem Eingang des geerdeten Oszilloskopes verbunden werden.

    Bandbreite: 25 MHz
    Teilungsfaktor: x10/x100
    Genauigkeit: +/-2%
    Anstiegszeit: 14ns
    Eingangsimpedanz: 4MO, 5,5pF
    Eingangsspannung:
    Differential Modus:
    x10: +-70V (DC + peak AC) or 70Vrms
    x100: +-700V (DC +peak AC) or 700Vrms
    Gemeinsamer Modus:
    x10: +-700V (DC + peak AC) or 700Vrms
    x100: +-700V (DC +peak AC) or 700Vrms
    Absolute max. Spannung:
    x10: +-1400V (DC + peak AC) or 1000Vrms CAT III
    x100: +-1400V (DC +peak AC) or 1000Vrms CAT III
    Ausgangsspannung
    Max. Amplitude: +-7V (into 2kO load)
    Offset: + - 5mV

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